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四探针面电阻测试仪SD-810

本仪器采用四探针接触式原理,用于测量导电膜层的面电阻,探针直径大,针头光滑,能伸缩,不易划伤膜层。仪器有多个量程范围可自动选择,以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据,校准数据和测量结果自动存储。

测量对象

  • Low-E镀膜玻璃(尤其表面不导电的Low-E玻璃)
  • TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃、LED发光玻璃
  • 透明导电薄膜材料
  • 人工合成金属片及导电纸
  • 其他导电和半导体材料

仪器功能

  • 方块电阻(Ohm/sq或Siemens/sq)

仪器

  • 高精度接触测量
  • 大面积平板镀膜测量

技术参数

项目 参数
测量范围 0~200 KOhm /sq
测量方法 四探针式测量
电池工作时长 4~6小时
电源规格 100V~240V 50/60Hz
仪器重量 约1.5 kg
仪器尺寸 约300×290×120 mm
注:厂家有权修改技术参数,请以实际产品和所附说明书为准。