测量对象
Low-E镀膜玻璃
TCO光伏玻璃、ITO玻璃、触摸屏玻璃、LED发光玻璃
透明导电薄膜材料
人工合成金属片及导电纸
其他导电和半导体材料
仪器特点
- 高精度接触测量；
- 专用于大面积平板镀膜测量
- 探针直径大，针头光滑，能伸缩，不易划伤膜层；
- 多个量程范围可自动选择；
- 校准数据和测量结果自动存储；
- 串行数据接口；
- 以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据。
技术参数
| 参数名称 | 技术指标 |
| 测量方式 | 四探针测量 |
| 测量量程 | 0.05～2000 Ohm/sq |
| 测量最大允许误差 | 不含探头：0.2%含探头：3 % |
| 温度漂移 | 50 pp/K @ 0～45℃ |
| 通讯接口 | RS485 |
| 测量速度 | 6s（含探针探头移动） |
| 工作环境 | 温度：0～50℃相对湿度：≤80% |
| 存储环境 | 温度：-10～+65℃相对湿度：≤80% |
| 供电电源 | DC24V |
| 额定功率 | 40W |
| 探针直径 | Ø 0.75mm |
| 探针间距 | 2mm |
| 探针压力 | 200g |
尺寸图
