仪器功能
- 测量玻璃的膜面和玻璃面光谱反射比、光谱透射比及面电阻，并计算出膜面、玻面及透射的Y、x、y、L*、a*、b*、色差等颜色参数
- 系统有横向扫描、纵向测量以及单点测量功能，具有小样品测量功能
- 实时显示光谱曲线、颜色参数、偏角色差、面电阻等测量结果，并绘出历史趋势曲线
- 丰富的品质分析和报警阈值设定功能，可设定片内横向纵向和片间的Y、L*、a*、b*、△E色差、面电阻报警阈值以及品质评判方法
- 自动存储并管理测量结果，可以进行数据库查询操作，数据可以导出给EXCEL等软件进行进一步处理
- 具有数据库人工和自动备份功能，以防数据意外丢失
- 打印颜色参数列表，打印光谱曲线，打印屏幕图像等功能
仪器特点
- 设备采用网络化连接，配置灵活
- 自动动态校准技术，设备长时间无漂移
- 特殊设计的校准样品盒，避免粉尘飘落污染样品
- 自主开发软件控制系统，适合行业用户使用习惯
- 开放控制接口，方便与镀膜控制系统联动控制
- 系统有自检功能，有故障报警及故障记录
- 系统性能、功能与控制计算机性能无关，用户可升级或更换计算机
技术参数
透反射测量
| 项目 | 参数 |
| 测量几何条件 | 8°/8°透射、8°/8°膜面反射、8°/8°玻璃面反射 45°/45°或60°/60°玻璃面偏角反射 |
| 测量形式 | 扫描测量 |
| 光源 | 仪器用卤素灯 |
| 玻璃厚度范围 | 2~19mm（可定制厚度） |
| 光谱范围 | 380mm~1000mm |
| 波长间隔 | 1nm |
| 波长准确度 | 优于0.3mm |
| 波长重复性 | 优于0.1mm |
| 测量速度 | 单点测量时间＜200ms 对于2.54m的生产线，测量24个点，测量速度＜20s 对于3.3m的生产线，测量33个点，测量＜25s |
| 短时间稳定性 | 对同一片玻璃同一点30次连续测量，L* a* b*测值波动＜0.1RMS |
| 长时间稳定性 | 重启仪器或置换光源后，测量同一片玻璃同一点L* a* b*测值波动＜0.1RMS |
面电阻测量
| 项目 | 参数 |
| 测量方式 | 扫描测量 |
| 测量范围 | 0.5~20Ω/□ |
| 测量速度 | 100ms |
| 玻璃厚度范围 | 2~19mm |
| 测量最小区域 | 120×120mm |
| 测量精度 | 0.1Ω/□ |
| 重复性 | 1% |
